tgδ为介质损耗角的正切(或称介质损耗因数)，，，，，，，，通常均比力幼。。。。。习惯上也有称tgδ为介质损耗角的。。。。。

       通过丈量tgδ，，，，，，，，能够反映出绝缘的一系列缺点，，，，，，，，如绝缘受潮，，，，，，，，油或浸渍物脏污或劣化变质，，，，，，，，绝缘中有气隙产生放电等。。。。。这时，，，，，，，，流过绝缘的电流中有功电流分量IRx增大了，，，，，，，，tgδ也加大。。。。。必要指出的是：绝缘中存在气隙这种缺点，，，，，，，，最好通过作tgδ与表加电压的关系曲线tgδ=f(U)来发现。。。。。

       例如对于发电机线棒，，，，，，，，若是绝月废化、气隙较多、则tgδ=f(U)将出现显著的转折、如图2所示。。。。。Uc代表气隙起头放电时的表加电压，，，，，，，，从tgδ增长的陡度可反映出老化的水平。。。。。但对于变电设备来说，，，，，，，，由于电桥电压(2500~10000V)常远低于设备的工作电压，，，，，，，，因而tgδ丈量虽可反映出绝缘受潮、油或浸渍物脏污、劣化变质等缺点，，，，，，，，但难以反映出绝缘内部的工作电压下部门放电性缺点。。。。。

       由于tgδ是一项暗示绝缘内功率损耗大幼的参数，，，，，，，，对于均匀介质，，，，，，，，它现实上反映着单元体积介质内的介质损耗，，，，，，，，与绝缘的体积大幼没有关系。。。。。这一点能够理解如下：在肯定的绝缘的工作场强下，，，，，，，，能够近似地以为绝缘厚度正迸宗U。。。。。当绝缘厚度肯定，，，，，，，，绝缘面积越大，，，，，，，，其电容量越大，，，，，，，，ICx也越大，，，，，，，，故ICX正迸宗绝缘面积。。。。。因而近似地以为绝缘体积正迸宗U ICx。。。。。由式（1）进一步可知，，，，，，，，tgδ反映单元体积中的介质损耗。。。。。

       若是绝缘内的缺点不是散布性而是集中性的，，，，，，，，则tgδ有时反映就不活络。。。。。被试绝缘的体积越大，，，，，，，，或集中性缺点所占的体积越幼，，，，，，，，那么集中性缺点处的介质损耗占被试绝缘全数介质损耗中的比沉就越幼，，，，，，，，而ICx通常险些是不变的，，，，，，，，故由式（1）可知，，，，，，，，tgδ增长得也越少，，，，，，，，这样，，，，，，，，测tgδ法就不活络。。。。。

       对于像电机、电缆这类电气设备，，，，，，，，由于运行中故障多为集中性缺点发展所致，，，，，，，，并且被试绝缘的体积较大，，，，，，，，tgδ法成效就差了。。。。。因而，，，，，，，，通常对运行中的电机、电缆等设备进行预防性试验时，，，，，，，，便不做这项试验。。。。。相反，，，，，，，，对于套管或互感器绝缘，，，，，，，，tgδ试验就是一项必不成少并且是比力有效的试验。。。。。由于套管的体积幼，，，，，，，，tgδ法不仅能够反映套管绝缘的全面情况，，，，，，，，并且有时能够查抄出其中的集中性缺点。。。。。

       当被试品绝缘由分歧的介质组成，，，，，，，，例如由两种分歧的绝缘部门并联组成时，，，，，，，，则凭据被试品总的介质损耗为其两个组成部门介质损耗之和，，，，，，，，并且被试品所受电压即为各组成部门所受的电压，，，，，，，，由式（1）可得

因而

        由式(2)可知，，，，，，，，C2/Cx越幼，，，，，，，，则C2的缺点(tgδ)增大)在测整体的tgδ时越难发现，，，，，，，，故对于能够分化为各个绝缘部门的被试品，，，，，，，，常用分化进行tgδ丈量的法子来更有效地发现缺点。。。。。例如测变压器tgδ时，，，，，，，，对套管的tgδ单独进行丈量，，，，，，，，能够有效地发现套管的缺点，，，，，，，，不然，，，，，，，，由于套管的电容比绕组的电容幼得多，，，，，，，，在丈量变压器绕组连同套管的tgδ时，，，，，，，，就不易反映套管内的绝缘缺点。。。。。

       在通过tgδ值判断绝缘情况时，，，，，，，，同样必须着沉于与该设备积年的tgδ值相比力以及和处于同样运行前提下的同类型设备相比力。。。。。即便tgδ值未超过尺度，，，，，，，，但和从前比以及和同样运行前提的其他设备比，，，，，，，，tgδ忽然显著增大时，，，，，，，，就必须进行处置，，，，，，，，不然时时；；；；；；；嵩谠诵兄蟹⒆瘫渎。。。。。